该论文介绍了碳化硼五次孪晶纳米线的结构弛豫现象,通过背散射电子衍射(EBSD)技术进行研究。文章分析了纳米线在不同条件下的结构变化,揭示了其在微观尺度上的力学行为和稳定性。研究结果对理解纳米材料的结构特性及应用具有重要意义。
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