本文介绍了真空电子器件外壳的关键工艺,重点探讨了陶瓷-金属封接技术及真空开关管用陶瓷管壳的制造方法。文章结合2011年度相关技术研讨会的成果,分析了材料选择、密封性能和工艺优化对器件性能的影响,为提高真空电子器件的可靠性提供了理论支持与实践指导。
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