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用高分辨X射线摇摆曲线表征RDX单晶的位错密度 - 全国危险物质与安全应急技术研讨会.pdf

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2025-12-14 08:16 | 查看全部阅读模式

论文《用高分辨X射线摇摆曲线表征RDX单晶的位错密度》在全国危险物质与安全应急技术研讨会上发表，旨在通过高分辨X射线摇摆曲线技术对RDX单晶中的位错密度进行精确测量。该方法能够有效评估晶体质量，为炸药材料的性能优化提供重要依据，具有重要的理论和应用价值。

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用高分辨X射线摇摆曲线表征RDX单晶的位错密度 - 全国危险物质与安全应急技术研讨会

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表征, 射线, 密度, 曲线, 物质

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