论文《片式电阻失效分析》发表于2011年第十四届全国可靠性物理学术讨论会，主要探讨了片式电阻在实际应用中的失效机制。文章通过实验分析和案例研究，揭示了导致片式电阻失效的主要因素，如热应力、机械损伤及材料缺陷等。研究成果对提高电子器件的可靠性和寿命具有重要意义，为相关领域的故障诊断与预防提供了理论依据和技术支持。
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