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混合信号SoC 联合测试方案的设计 - 第十四届全国容错计算学术会议.pdf

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2025-12-14 07:45 | 查看全部阅读模式

论文《混合信号SoC联合测试方案的设计》探讨了针对混合信号系统级芯片的测试方法。文章提出了一个有效的联合测试策略，旨在提高测试效率和故障覆盖率。通过结合数字与模拟信号的测试技术，该方案能够更好地适应复杂SoC的测试需求，为容错计算提供可靠保障。

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