该论文发表于2011年全国背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流会,主要研究了氮化镓异质结在高能电子辐照下的微观结构变化。通过电子背散射衍射技术,分析了辐照后材料的晶体取向和缺陷分布,揭示了辐照对氮化镓异质结晶格结构的影响机制,为半导体器件的辐射损伤研究提供了重要参考。
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