论文《板级电路嵌入式测试研究》探讨了在电路板级别上实现嵌入式测试的方法与技术。文章针对现代电子系统复杂性增加带来的测试难题，提出了一种有效的嵌入式测试方案，旨在提高测试效率和故障诊断能力。通过引入先进的测试架构和算法，该研究为提升电路板的可靠性与可测试性提供了理论支持和技术参考，具有重要的工程应用价值。
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