|
论文《基于扫描的at-speed测试的设计与实现》探讨了在微处理器设计中如何通过扫描技术实现高速测试。文章提出了有效的测试方案，以确保电路在实际工作频率下的正确性。该研究对于提高芯片测试效率和可靠性具有重要意义，为计算机工程与微处理器技术的发展提供了理论支持和实践参考。 ","role":"assistant文档为pdf格式，0.28MB，总共5页。
- 文件大小:
- 286.72 KB
- 下载次数:
- 60
- 基于扫描的at-speed测试的设计与实现 - 第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛.pdf ...
-
高速下载
| 
