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论文《基于MEDICI的深亚微米NMOSFET热载流子效应研究》探讨了深亚微米NMOSFET器件在工作过程中产生的热载流子效应。通过使用MEDICI仿真工具，研究分析了热载流子对器件性能的影响，包括阈值电压漂移和跨导退化等现象。该研究为提高器件可靠性提供了理论依据和技术支持，具有重要的工程应用价值。 文档为pdf格式，0.24MB，总共7页。
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- 基于MEDICI的深亚微米NMOSFET热载流子效应研究 - 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会.pdf ...
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