论文《压敏元件的深能级瞬态谱》发表于中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第十八届学术年会。该文研究了压敏元件中的深能级缺陷,通过深能级瞬态谱技术分析其电学特性,揭示了材料内部缺陷对器件性能的影响机制,为优化压敏材料设计提供了理论依据。
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