半导体器件的抗静电性能分析 - 2011’全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会.pdf

论文《半导体器件的抗静电性能分析》发表于2011’全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会，主要探讨了半导体器件在静电放电（ESD）环境下的性能表现。文章分析了不同材料和结构对器件抗静电能力的影响，提出了优化设计方法以提高器件的可靠性。该研究对提升半导体产品的稳定性与寿命具有重要参考价值。

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2025-12-14 02:33 上传 半导体器件的抗静电性能分析 - 2011’全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会.pdf

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