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《X射线图像中缺陷特征的分类 - 2011年全国射线检测技术年会》是一篇关于X射线检测技术在工业无损检测中应用的研究论文。文章主要探讨了如何通过图像处理和模式识别技术对X射线图像中的缺陷特征进行有效分类。研究内容涵盖了缺陷类型的识别、图像特征提取以及分类算法的优化，旨在提高检测的准确性和效率。该文为射线检测技术的发展提供了理论支持和实践指导，对于提升产品质量和安全性能具有重要意义。 文档为pdf格式，0.29MB，总共5页。
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