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《X芯片中PCI接口的功能验证》是第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议的重要论文之一。该文详细阐述了在X芯片设计中，对PCI接口功能进行全面验证的方法与实践。通过建立完善的测试环境和验证流程，作者成功检测并解决了多个关键功能问题，确保了PCI接口在实际应用中的稳定性和可靠性。文章还介绍了验证过程中采用的测试工具和方法，为后续类似芯片的设计与验证提供了宝贵的经验参考。本文对于提升国产芯片的自主创新能力具有重要意义。 文档为pdf格式，0.25MB，总共6页。
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