GB 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法

40 0

admin 发表于 2024-9-23 07:19 | 查看全部阅读模式

半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法
Theactivationanalysismethodforthedeterminationofelementalimpuritiesinsemiconductorsiliconmaterials

摘要:本标准适用于单晶硅、多晶硅中金属杂质元素和非金属杂质元素含量的测定。

标准编号：GB4298-1984
标准类型：GB
发布单位：国家标准局
发布日期：1984年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1985年1月1日
关键词：金属,含量测定,材料,杂质,非金属夹杂物,辐射测量法,硅,半导体,Non-metallicinclusions,Semiconductors,Radiometry,Silicon,Materials,Metals,Determinationofcontent,Impurities

GB 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法.pdf

2024-9-23 07:19 上传

GB 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法.pdf

文件大小:: 554.31 KB

下载次数:: 60

高速下载

半导体, 活化, 杂质, 元素, 材料

【温馨提示】您好！以下是下载说明，请您仔细阅读：
1、推荐使用360安全浏览器访问本站，选择您所需的PDF文档，点击页面下方“本地下载”按钮。
2、耐心等待两秒钟，系统将自动开始下载，本站文件均为高速下载。
3、下载完成后，请查看您浏览器的下载文件夹，找到对应的PDF文件。
4、使用PDF阅读器打开文档，开始阅读学习。
5、使用过程中遇到问题，请联系QQ客服。

本站提供的所有PDF文档、软件、资料等均为网友上传或网络收集，仅供学习和研究使用，不得用于任何商业用途。
本站尊重知识产权，若本站内容侵犯了您的权益，请及时通知我们，我们将尽快予以删除。

GB 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法

相关帖子

能源电力

化工

建筑工程

机械

电子信息

医药

科学