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《FPGA逻辑资源测试遍历方法》是中国(国际)核电仪控技术大会中的一篇重要论文，主要探讨了在核电仪控系统中如何高效测试FPGA的逻辑资源。文章提出了一种基于遍历方法的测试策略，旨在提高测试覆盖率和诊断准确性。通过分析FPGA内部逻辑结构，该方法能够有效识别潜在故障点，保障系统运行的安全性与可靠性。该研究对于提升核电控制系统的智能化水平具有重要意义，也为相关领域的技术发展提供了理论支持和实践指导。 文档为pdf格式，0.2MB，总共6页。
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- FPGA逻辑资源测试遍历方法 - 第一届中国(国际)核电仪控技术大会.pdf
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