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《ESD EMP干扰下电路端口响应分析》是第二届电磁环境效应与防护技术学术研讨会的重要论文之一。该文主要研究了静电放电（ESD）和电磁脉冲（EMP）对电路端口的干扰效应，分析了不同干扰源作用下的电路响应特性。文章通过理论建模与实验测试相结合的方法，探讨了干扰信号在电路中的传播路径及对设备性能的影响。研究结果为电子设备的抗干扰设计提供了重要参考，有助于提升系统在复杂电磁环境下的可靠性与稳定性。本文对于加强电磁兼容性研究和提高设备防护能力具有重要意义。 文档为pdf格式，0.55MB，总共3页。
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