|
2011年全国背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流会上，有关《EBSD技术在第二代高温超导涂层导体研究中的应用》的报告展示了EBSD在材料微结构分析中的重要作用。该技术通过采集背散射电子衍射花样，能够精确获取材料的晶体取向、晶界特征及织构信息。在第二代高温超导涂层导体的研究中，EBSD被用于分析薄膜的生长过程和晶粒排列，为优化制备工艺提供了关键数据支持。研究结果有助于提升超导材料的性能和稳定性，推动其在电力传输等领域的应用发展。 文档为pdf格式，0.41MB，总共5页。
- 文件大小:
- 419.84 KB
- 下载次数:
- 60
- EBSD技术在第二代高温超导涂层导体研究中的应用 - 2011年全国背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流会.pdf ...
-
高速下载
| 
