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《CdZnTe半导体探测器X射线能谱响应特性分析》是第5届海内外中华青年材料科学技术研讨会暨第13届全国青年材料科学技术研讨会的重要论文之一。该研究聚焦于CdZnTe半导体探测器在X射线能谱分析中的性能表现，探讨了其能量分辨率、探测效率及响应稳定性等关键参数。通过实验与模拟相结合的方法，文章深入分析了材料特性对探测器性能的影响，为优化X射线探测技术提供了理论依据和技术支持。该成果对于推动高能物理、医学成像和无损检测等领域的发展具有重要意义。 文档为pdf格式，0.26MB，总共9页。
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