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《Compton背散射探测系统的蒙特卡洛模拟》是2011年全国射线检测技术年会中的一篇重要论文。该文详细介绍了利用蒙特卡洛方法对Compton背散射探测系统进行模拟的过程与结果。通过模拟，研究人员能够更准确地理解γ射线在物质中的散射行为，优化探测器的设计参数，提高探测效率和成像质量。文章还探讨了不同材料和结构对背散射信号的影响，为实际应用提供了理论依据和技术支持。该研究对于提升无损检测技术的精度和可靠性具有重要意义，是射线检测领域的重要研究成果之一。 文档为pdf格式，0.92MB，总共8页。
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- Compton背散射探测系统的蒙特卡洛模拟 - 2011年全国射线检测技术年会.pdf
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