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《CCD芯片性能参数测量系统》是第九届全国信息获取与处理学术会议上展示的一项重要研究成果。该系统主要用于对电荷耦合器件（CCD）的各项性能参数进行精确测量，包括灵敏度、分辨率、动态范围和噪声特性等。通过该系统，研究人员能够更准确地评估CCD在图像采集和处理中的表现，为相关领域的技术改进提供数据支持。该论文介绍了系统的硬件架构、软件设计以及测试方法，展示了其在实际应用中的有效性与可靠性。此次会议汇聚了众多专家学者，共同探讨信息获取与处理领域的最新进展，该成果的发布引起了广泛关注。 文档为pdf格式，0.48MB，总共5页。
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- CCD芯片性能参数测量系统 - 第九届全国信息获取与处理学术会议.pdf
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