|
《50℃~500℃面源黑体校准技术研究》是中国计量测试学会光辐射计量学术研讨会的重要议题之一。该研究聚焦于面源黑体在中低温范围内的校准方法与技术，旨在提高红外测温设备的准确性和可靠性。通过分析不同温度下的辐射特性，研究提出了优化的校准流程和误差修正方案。该成果对提升我国在光辐射计量领域的技术水平具有重要意义，为相关行业的精准测量提供了理论支持和技术保障。 文档为pdf格式，0.22MB，总共5页。
- 文件大小:
- 225.28 KB
- 下载次数:
- 60
- 50℃~500℃面源黑体校准技术研究 - 中国计量测试学会光辐射计量学术研讨会.pdf ...
-
高速下载
| 
