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《1700V高压超快恢复二极管平面结终端结构的优化设计》是2011年全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会上的一篇重要论文。该文针对高压超快恢复二极管的结终端结构进行了深入研究，旨在提高器件的耐压能力和开关性能。通过优化设计，文章提出了改进的平面结终端结构，有效降低了边缘电场强度，提升了器件的可靠性与稳定性。研究成果对推动高压半导体器件的发展具有重要意义，为相关领域的技术创新提供了理论支持和实践指导。 文档为pdf格式，0.08MB，总共1页。
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- 1700V高压超快恢复二极管平面结终端结构的优化设计 - 2011’全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨 ...
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