GBT 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法

非本征半导体材料导电类型测试方法
Standardmethodsformeasuringconductivitytypeofextrinsicsemiconductingmaterials

摘要:本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定。

标准编号：GB/T1550-1997
标准类型：CF
发布单位：CN-GB
发布日期：1997年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1997年1月1日
关键词：晶体,硅,半导体材料,单,电导测量法,semiconductormaterials,silicone,conductimetricmethods,crystals,single,silicon

GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法.pdf

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