GBT 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范.pdf

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一、基本信息

文档名称:GBT 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范

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总页数:32页


二、简介

《GBT 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范》是中国国家标准,用于规范半导体设备在可靠性、可用性和维修性方面的定义及测量方法。该标准旨在为半导体设备的设计、制造和使用提供统一的评估依据,以提高设备的整体性能和运行效率。通过明确RAM指标的计算方式和测试要求,该标准有助于提升半导体设备的质量控制水平,促进产业的技术进步和国际接轨。


三、预览

GBT 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范
2025-9-7 10:46 上传
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