[冶金] GBT 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

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admin 发表于 2024-9-22 21:45 | 查看全部阅读模式

太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
TestmethodfordeterminationofcrystaldefectdensityinPVsiliconingotandwafer

摘要:本标准规定了太阳能级多晶硅锭、硅片的晶体缺陷密度测定方法，包含方法概要、试剂和材料、仪器和设备、试样制备、测试步骤、数据处理、精密度、干扰因素和报告。本标准适用于太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度的测定。

标准编号：GB/T37051-2018
标准类型：GB
发布单位：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2019年1月1日
关键词：

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法.pdf

2024-9-22 21:45 上传

GBT 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法.pdf

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能级, 硅片, 晶体, 密度, 缺陷

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