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[电工技术] 气体介质影响下梅花触头载流磨损特性与电接触寿命预测

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admin 发表于 2025-1-24 12:00 | 查看全部 阅读模式

气体介质影响下梅花触头载流磨损特性与电接触寿命预测
梅花触头接触不良而引发的过热性故障是开关柜和气体绝缘组合电器的典型缺陷之一,研究不同气体介质中梅花触头的载流摩擦特性和剩余寿命预测对于准确评估该类型设备的健康状态具有重要意义。文中根据真实梅花触头材料和工艺加工了试验试样,采用自行搭建的载流摩擦台开展空气、N2和SF6气体介质下的载流摩擦试验并获取接触电阻的退化曲线。分析触头表面形貌得知:试样表面在大电流和机械位移作用下出现了明显的粘着磨损,气体介质通过改变磨损区域的形貌和元素组成影响触头的退化过程。根据触头的V-T关系确定了接触电阻失效阈值,利用Savitzky-Golay滤波器对接触电阻原始曲线进行平滑滤波,采用贝叶斯更新的Wiener退化模型对不同气体介质下的梅花触头进行寿命预测,结果表明:与常规Wiener模型相比,采用贝叶斯更新的Wiener退化模型具有较好的预测准确度。空气中梅花触头的剩余寿命为9 500周期,N2中梅花触头的剩余寿命为61 300周期,SF6中梅花触头的剩余寿命为32 200周期。

标题:
气体介质影响下梅花触头载流磨损特性与电接触寿命预测
Current-carrying friction characteristics and electrical contact life prediction of plum blossom contacts under the influence of gas medium

作者:
林镕兴,王扬程,陈志鹏,关向雨,刘江,蔡开明
LIN Rongxing, WANG Yangcheng, CHEN Zhipeng, GUAN Xiangyu, LIU Jiang, CAI Kaiming

关键词:
梅花触头;气体介质;载流摩擦;退化曲线;表面形貌;失效预测
plum blossom contact;gas medium;current-carrying friction;degradation curves;surface morphology;failure preiction
2025-1-23 20:01 上传
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