基于Havriliak-Negami模型的受潮套管分布式频域介电谱测量方法

基于Havriliak-Negami模型的受潮套管分布式频域介电谱测量方法
摘要：研究了基于Havriliak-Negami模型的受潮套管分布式频域介电谱测量方法，并评估了套管受潮状态。利用分布式频域介电谱测量方法，分析了在0. 1 Hz和1 Hz频率下不同含水量套管模型介损随测试电压的变化规律，以及内外层受潮套管介质损耗角正切值的分布规律，利用Havriliak-Negami模型拟合了不同含水量油浸式受潮缺陷套管频域介电谱参数。试验结果表明，随电压升高，含水量越大的套管，低频介损线性增加幅度越大；弛豫时间常数随水分含量增加而减小，水分含量满足对数线性关系；末屏接头与套管次末屏之间电容实部对套管外层受潮非常敏感；导杆-次末屏电容对套管内层受潮非常敏感，确定受潮部位对套管受潮诊断具有重要意义。

标题：基于Havriliak-Negami模型的受潮套管分布式频域介电谱测量方法

作者：张绍明,施广宇,彭宇霞,

关键词：Havriliak-Negami模型,受潮套管,分布式频域,介电谱,

发表日期：2021年9月

2025-1-19 14:48 上传 基于Havriliak-Negami模型的受潮套管分布式频域介电谱测量方法.pdf

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