轴表面荧光磁粉检测缺陷图像的快速展开拼接

轴表面荧光磁粉检测缺陷图像的快速展开拼接
摘要：根据成像原理，分析出图像失真主要来源于径向畸变和透视失真；建立面阵CCD （电荷耦合元件）相机采集轴侧表面图像的专用成像模型，提出了快速展开拼接算法，获得检测图像和展开复原图像的坐标对应关系，采用双线性插值法对图像进行展开复原；利用相位相关法获得相邻图像的平移位置关系，将多张展开图像进行轴向和径向拼接，生成完整的侧面展开图。试验结果表明：将6幅轴的侧面缺陷图像展开拼接成分辨率为1 624像素×750像素的矩形图像所需时间为1.793 s，每幅图像展开的平均时间为0.090 s，展开拼接图像中缺陷几何特征参数的相对误差在3.9%以内。这满足了轴类工件表面无损检测对实时性和准确性的要求。

标题：轴表面荧光磁粉检测缺陷图像的快速展开拼接

作者：王正成,卜雄洙,韩伟,牛杰,

关键词：图像展开,图像拼接,成像建模,荧光磁粉检测,表面检测,视觉检测,

发表日期：2018年1月

2025-1-19 14:32 上传 轴表面荧光磁粉检测缺陷图像的快速展开拼接.pdf

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