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[金属工艺] 基于LabVIEW的超声C扫成像系统设计

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admin 发表于 2025-1-19 14:28 | 查看全部 阅读模式

基于LabVIEW的超声C扫成像系统设计
摘要:针对目前国内外超声C扫成像系统研发成本普遍较昂贵的现状,开发了一套新的超声C扫成像系统。系统上位机采用图形化编程语言LabVIEW编写,配合超声发射接收卡及普通的单片机STC89C51,实现对三轴平台的灵活控制及超声回波信号的高效采集,提高了软件的灵活性,增强了软件的操作友好性,同时降低了成本。系统能满足承压设备板材、锻件及探头声场测试的要求。

标题:基于LabVIEW的超声C扫成像系统设计

作者:张国才,游泳,沈洋,邢秀文,谢小荣,

关键词:水浸超声检测,C扫成像,LabVIEW,单片机,

发表日期:2017年11月
2025-1-19 14:28 上传
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