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[金属工艺] 相控阵超声虚拟探头的声压均匀性分析

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admin 发表于 2025-1-19 14:22 | 查看全部 阅读模式

相控阵超声虚拟探头的声压均匀性分析
摘要:通过调整相控阵超声检测仪阵元数、起始阵元和末阵元的方式,组成不同阵元数的虚拟探头,利用RB-1型超声检测标准试块,在框住H(工件厚度)=25 mm的底面回波条件下,进行了两组试验,首先测量了探头各单独阵元在底面回波达到满屏高度80%时的增益值,分析了单阵元激发声压的波动性;然后调整参数设置,测量记录了不同阵元数虚拟探头的底面回波达到满屏高度80%时的增益值,并计算了相同阵元数情况下,所有虚拟探头的增益均值和方差均值,得出虚拟探头增益均值和方差均值随其阵元数量的变化趋势。基于试验数据分析了探头阵元声压稳定性和虚拟探头声压对实际检测的影响,为相控阵超声检测的实际应用提供了一些参考。

标题:相控阵超声虚拟探头的声压均匀性分析

作者:蔡彦强,贾焕英,

关键词:相控阵超声,虚拟探头,声压均匀性,阵元数量,

发表日期:2023年12月
2025-1-19 14:22 上传
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