[金属工艺] 多信息超声相控阵缺陷检测

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admin 发表于 2025-1-19 14:21 | 查看全部阅读模式

多信息超声相控阵缺陷检测
摘要：通过设计虚拟聚焦试验，验证了超声相控阵检测对各个阵元信号进行合成后的A扫信号具有更高的信噪比，从而在使用A扫信号进行成像时，可以提高图像的分辨率，使得缺陷的成像质量更高；更进一步地说明了阵元越多，能够得到试件的信息越多，利用信息形成的图像质量也就越高，检测结果就会更加接近缺陷的真实情况。

标题：多信息超声相控阵缺陷检测

作者：杨天雪,

关键词：超声相控阵,A扫信号,多信息,成像,

发表日期：2017年5月

2025-1-19 14:21 上传

多信息超声相控阵缺陷检测.pdf

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信息, 超声, 相控, 缺陷, 检测

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