线阵列探测器串扰试验通过对芬兰DT公司生产的XSCAN0.4f线阵列探测器进行串扰试验，分析了X射线源的分布和光子在不同角度入射时对阵列探测器串扰的影响。介绍了探测器试验校准过程，包括偏置和增益的校准。讨论了准直狭缝试验和边沿试验中探测器的位置分辨力，发现在阵列探测器各单元工作性能稳定的情况下，串扰和散射是影响扫描图像均匀性的重要因素，而且相同能量的光子在垂直入射与斜入射情况下产生的串扰不同。
标题：线阵列探测器串扰试验
作者：陈敏聪,
关键词：GOS闪烁体,线阵列,串扰,位置分辨,
发表日期：2014年2月
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