[金属工艺] 基于几种超声压电晶片阵列的金属板缺陷成像

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基于几种超声压电晶片阵列的金属板缺陷成像结合椭圆定位方法，分别采用了线型、十字型和时钟型超声压电晶片阵列对金属薄板中缺陷进行成像识别。根据Lamb波在薄板中的传播分析，选取激励信号及其参数，构建超声信号检测模型。依据椭圆轨迹原理进行成像，判断薄板中有无缺陷存在。通过压电陶瓷晶片加载脉冲激励信号，分别对三种情况进行数据处理并成像。结果证明十字型和时钟型阵列能有效地对缺陷成像，并避免了成像过程中的虚像。

标题：基于几种超声压电晶片阵列的金属板缺陷成像

作者：袁魁,沈希忠,

关键词：Lamb波检测,缺陷识别,超声成像,阵列技术,虚像,

发表日期：2013年3月

2025-1-19 13:59 上传

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