基于模糊聚类双谱的磁瓦内部缺陷无损检测方法

基于模糊聚类双谱的磁瓦内部缺陷无损检测方法为解决磁瓦内部缺陷较难检测的问题, 提出一种模糊聚类双谱分析方法用于其内部缺陷的无损检测。该方法以磁瓦在受到撞击时产生的声振信号作为研究对象, 利用双谱分析发现内部缺陷与双谱峰值的分布区域具有映射关系, 并且模糊聚类处理后的归一化双谱能明显地反映这一特征。根据这个规律, 通过将模糊聚类双谱的对角线切片划分为若干频段, 并计算切片指定幅值所在的频段建立内部缺陷识别规则。最后由验证试验评估该方法的可行性, 得到了92.5%以上的识别精度。试验表明：模糊聚类双谱在磁瓦内部缺陷声振检测中具有一定实用性。

标题：基于模糊聚类双谱的磁瓦内部缺陷无损检测方法

作者：黄沁元,殷鹰,赵越,赵秀粉,殷国富,

关键词：声振检测,模糊聚类双谱,内部缺陷,磁瓦,

发表日期：2014年12月

2025-1-19 13:49 上传 基于模糊聚类双谱的磁瓦内部缺陷无损检测方法.pdf

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