[金属工艺] DD5单晶合金叶片荧光渗透检测缺陷评价

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DD5单晶合金叶片荧光渗透检测缺陷评价针对DD5单晶高温合金叶片在渗透检测过程中出现的大面积弥散的点状荧光显示进行了系统的分析，采用微观分析手段确认了叶片荧光显示的性质。并结合人工缺陷试样定量分析实际缺陷尺寸与荧光显示尺寸的相关性。结果表明DD5单晶合金叶片上大面积弥散点状荧光显示主要是由于腐蚀造成的，为单晶高温合金叶片的研制和荧光显示评判提供了参考数据。

标题：DD5单晶合金叶片荧光渗透检测缺陷评价

作者：葛子亮,王树志,叶冠霆,张俭,

关键词：渗透检测,单晶,高温合金,腐蚀,荧光显示,

发表日期：2014年7月

2025-1-19 13:45 上传

DD5单晶合金叶片荧光渗透检测缺陷评价.pdf

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DD5, 单晶, 合金, 叶片, 荧光

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