[金属工艺] X射线检测光纤缠绕缺陷及衰减系数分析

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2025-1-19 13:38 | 查看全部阅读模式

X射线检测光纤缠绕缺陷及衰减系数分析
利用X射线对光纤缠绕线包进行检测。通过对传统射线仪拍摄的图片进行分析，验证了X射线检测光纤缠绕缺陷的可行性，并提出了具体检测方案。对单层光纤进行扫描检测，得出单层光纤的衰减情况：当入射光子波长为0.154 nm时，单层光纤衰减系数为4.7/mm，其衰减周期为轴对称分布，且光纤中心对射线的衰减并不是最大的，最大衰减介于光纤边缘和中心之间。试验研究结果对光纤缠绕缺陷测试诊断系统的研制提供了理论及试验依据。

标题：X射线检测光纤缠绕缺陷及衰减系数分析

作者：徐振华,刘津升,崔骥,

关键词：光纤,缠绕缺陷,X射线检测,衰减系数,

发表日期：2011年7月

2025-1-19 13:38 上传

X射线检测光纤缠绕缺陷及衰减系数分析.pdf

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射线, 检测, 光纤, 缠绕, 缺陷

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