TFT面阵探测器X射线数字透射成像
通过对裂纹模拟缺陷试件的数字透射成像检测试验，分析并研究了面阵探测器成像检测系统、透照参数、检测工艺与检测图像质量的关系，并给出了检测过程中应该注意的问题。具体试验表明：面阵探测器X射线数字成像系统在一定厚度范围内的检测效果(主要是图像的单丝像质计指数)优于同厚度的射线照相B级要求。
标题：TFT面阵探测器X射线数字透射成像
作者：张祥春,蔡良续,张鹭,王曼,
关键词：面阵列探测器,数字透射成像,检测参数,图像质量,
发表日期：2011年5月
- 文件大小:
- 2.2 MB
- 下载次数:
- 60
-
高速下载
|
