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[金属工艺] 关于金属磁记忆检测中背景磁场抑制的讨论

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2025-1-19 13:00 | 查看全部阅读模式

关于金属磁记忆检测中背景磁场抑制的讨论
通过具体试验，对当前金属磁记忆检测中普遍采用的利用通道补偿的背景磁场抑制方法进行了验证。结果发现通道补偿法并不能真正去除背景磁场对金属磁记忆检测的影响；同时，进一步对背景磁场对金属磁记忆检测的影响进行了分析，指出了相关的影响因素，并提出利用有限元分析消除背景磁场对金属磁记忆检测的影响的方法。

标题：关于金属磁记忆检测中背景磁场抑制的讨论

作者：王丹,徐滨士,董世运,董丽虹,

关键词：金属磁记忆检测,背景磁场,通道补偿法,

发表日期：2007年2月

2025-1-19 12:06 上传

关于金属磁记忆检测中背景磁场抑制的讨论.pdf

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