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    [YD通信] YDT 3037.2-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC

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    2025-1-1 23:14 | 查看全部 阅读模式

    YDT 3037.2-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC
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    UICC, YDT, 存储, 2部, 方法
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