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[YD通信]
YDT 3037.1-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端
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2025-1-1 23:13
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YDT 3037.1-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端
YDT 3037.1-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端.pdf
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