文档名：电池片硫化现象的分析与研究
摘要：以晶体硅电池片为研究对象,对电池片出现栅线发暗区域进行分析.采用了SEM扫描、EDS元素分析及烘箱模拟硫化加速等多种分析测试方式,确认栅线发暗是银发生了硫化.同时对此硫化现象的影响因素进行了分析,证明与电池片表面硫含量、封装后电池片所处环境温度、封装包材三者相关.实验表明电池片生产过程中环境中的硫含量越高,电池片越容易硫化;电池片存储或运输温度越高,电池片越容易硫化;封装包材中,EVA泡棉整体为多层孔状结构,可以促进硫化反应的发生,中空板表面为平面结构,可以抑制硫化反应的发生.电池片的栅线硫化不影响其组件的发电性能及可靠性.分析结果有助于电池片厂家解决硫化问题,也有助于组件厂家在遇到有硫化电池片的组件时,分析对组件性能的影响.
作者：吴兢 杜欢 杨振威 糜宇亮Author：WUJing DUHuan YANGZhenwei MIYuliang
作者单位：江苏辉伦太阳能科技有限公司国机新能源研究院,江苏南京210061
刊名：电源技术 ISTICPKU
Journal：ChineseJournalofPowerSources
年，卷(期)：2023, 47(12)
分类号：TM914
关键词：电池片 硫化 硫含量 栅线发暗
Keywords：solarcells vulcanization sulfurcontent darkeningoffingers
机标分类号：TS194.43S831.4TQ031.9
在线出版日期：2024年1月24日
基金项目：国机集团重大科技专项项目电池片硫化现象的分析与研究[
期刊论文] 电源技术--2023, 47(12)吴兢 杜欢 杨振威 糜宇亮以晶体硅电池片为研究对象,对电池片出现栅线发暗区域进行分析.采用了SEM扫描、EDS元素分析及烘箱模拟硫化加速等多种分析测试方式,确认栅线发暗是银发生了硫化.同时对此硫化现象的影响因素进行了分析,证明与电池片表面硫...参考文献和引证文献
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