文档名：基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究
摘要：在电子电路服役过程中,元器件退化会引起电路输出特性变化,降低电子电路的可靠性.漏电信号调理电路作为一种电子电路,其可靠性直接决定了漏电断路器的可靠性.以漏电信号调理电路为研究对象,首先基于灵敏度分析方法确定影响电路性能退化的关键元器件,并对漏电信号调理电路进行了以温度为加速应力、动作电流值为退化特征量的恒定应力加速退化试验;其次根据不同温度应力下的试验数据建立基于Wiener过程的漏电信号调理电路性能退化模型,并利用极大似然估计法求取退化模型的未知参数,进而得出寿命预测的概率密度函数和可靠度函数;最后利用阿伦尼斯(Arrhenius)方程外推出正常应力下漏电信号调理电路的预测寿命.相关结论可为不同电子电路的寿命预测及可靠度分析提供支撑.
Abstract：Duringtheservicelifeofelectroniccircuits,thedegradationofcomponentswillchangecircuitoutputperformance,thusleadingtolowreliabilityofelectroniccircuits.Asanelectroniccircuit,thereli-abilityoftheleakagesignalconditioningcircuitdirectlydeterminesthereliabilityoftheleakagecircuitbreaker.Thesignalconditioningcircuitofresidualcurrentdevicewasresearched.Firstly,thekeycom-ponentswhichaffectcircuitperformancedegradationweredeterminedbasedonthesensitivityanalysismethod,andtheconstantstressaccelerateddegradationtestwascarriedoutfortheleakagesignalcondi-tioningcircuitwithtemperatureasacceleratedstressandtrippingcurrentasdegradationfeature.Second-ly,accordingtothetestdataunderdifferenttemperaturestress,theperformancedegradationmodelofsignalconditioningcircuitbasedonWienerprocesswasestablished.Theunknownparametersofdegrada-tionmodelwereobtainedbyusingmaximumlikelihoodestimationmethod,andthentheprobabilitydensi-tyfunctionandreliabilityfunctionoflifepredictionwereobtained.Finally,thepredictedlifeofsignalconditioningcircuitunderconstantstresswasderivedfromtheArrheniusequation.Theconclusioncanprovideguidanceforlifepredictionandreliabilityanalysisofdifferentelectroniccircuits.
作者：牛峰 张博恒 李贵衡 戴逸华 项石虎 李奎 Author：NIUFeng ZHANGBoheng LIGuiheng DAIYihua XIANGShihu LIKui
作者单位：河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,天津300401;河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,天津300401;常熟开关制造有限公司,江苏常熟215500河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,天津300401;河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,天津300401北京蓝普锋科技有限公司,北京102218
刊名：电机与控制学报
Journal：ElectricMachinesandControl
年，卷(期)：2024, 28(1)
分类号：TM344.6
关键词：加速退化试验 性能退化 退化建模 寿命预测 Wiener过程 电子电路
Keywords：accelerateddegradationtest performancedegradation degradationmodeling lifeprediction Wienerprocess electroniccircuit
机标分类号：TB114.3V423.42TJ07
在线出版日期：2024年3月5日
基金项目：国家自然科学基金，国家自然科学基金基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究[
期刊论文] 电机与控制学报--2024, 28(1)牛峰 张博恒 李贵衡 戴逸华 项石虎 李奎在电子电路服役过程中,元器件退化会引起电路输出特性变化,降低电子电路的可靠性.漏电信号调理电路作为一种电子电路,其可靠性直接决定了漏电断路器的可靠性.以漏电信号调理电路为研究对象,首先基于灵敏度分析方法确定影...参考文献和引证文献
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