文档名：钨镍共掺杂V2O5薄膜的光电特性研究
摘要：利用溶胶-凝胶旋涂法和后退火工艺在FTO导电玻璃上制备了钨镍共掺杂V2O5薄膜,研究了薄膜在不同温度和不同偏压下的光电特性和相变特性.利用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和X射线光电子能谱仪(XPS)测试了钨镍共掺杂V2O5薄膜的晶体结构、表面形貌和组分,分析了不同钨镍共掺杂浓度对V2O5薄膜相变光电特性的影响.结果表明,当钨和镍的掺杂质量分数分别为3%和1.5%时,钨镍共掺杂的V2O5薄膜的相变温度为218.5℃,在可见光范围内有较高的透过率,在近红外1310nm波长处的光学透过率达48.83%,与未掺杂V2O5薄膜的光学透过率相比提高了10.29%,薄膜电阻降低了30.53%,热致回线宽度收窄为15℃,说明钨镍共掺杂的V2O5薄膜具有良好的可逆相变光电特性,有望在新型光电器件领域得到较好的应用.
Abstract：Inthispaper,tungsten-nickelco-dopedV2O5filmswerepreparedonFTOconductiveglassbyusingsol-gelspincoatingandannealingtostudytheirphotoelectricandphasetransitionpropertiesatdifferenttemperaturesanddifferentbiasvoltage.Thecrystalstructure,surfacemorphologyandcomponentsoftungsten-nickelco-dopingV2O5filmsweretestedbyXRD,SEMandXPStoanalyzetheeffectsofdifferenttungsten-nickelco-dopingconcentrationsonthephasetransitionphotoelectricpropertiesofV2O5films.Theresultsshowthatwhenthedopingconcentrationsoftungstenandnickelwererespectively3%and1.5%,tungsten-nickelco-dopedV2O5filmshadaphasetransitiontemperatureof218.5℃,ahighertransmittanceinthevisiblelightrangeandthetransmittanceof48.83%at1310nmwavelength.ComparingwiththeundopedV2O5films,theopticaltransmittanceandsheetresistanceoftheco-dopedV2O5filmsincreased10.29%anddecreased30.53%,respectively,andthethermalhysteresisloopwidthwasalsonarrowedto15℃.Itisexpectedtohavebetterapplicationsinthefieldofnewoptoelectronicdevicesbasedontheirexcellentreversiblephasetransitionphotoelectricproperties.
作者：王兴萍 李毅 庄嘉庆 闫俊屹 梅金城 Author：WANGXingping LIYi ZHUANGJiaqing YANJunyi MEIJincheng
作者单位：上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093;上海理工大学上海市现代光学系统重点实验室,上海200093
刊名：光学仪器
Journal：OpticalInstruments
年，卷(期)：2024, 46(3)
分类号：TO484.4TO484.5
关键词：钨镍共掺杂 V2O5薄膜 溶胶-凝胶 热致相变 光学透过率 薄膜电阻
Keywords：codopingoftungstenandnickel V2O5film sol-gel thermotropicphasetransition opticaltransmittance sheetresistance
机标分类号：TG156.2TH838.3O646
在线出版日期：2024年7月11日
基金项目：教育部科学技术研究项目重点项目，上海市科学技术委员会科技攻关计划，上海市教育委员会科研创新计划重点项目，上海市领军人才培养计划项目钨镍共掺杂V2O5薄膜的光电特性研究[
期刊论文] 光学仪器--2024, 46(3)王兴萍 李毅 庄嘉庆 闫俊屹 梅金城利用溶胶-凝胶旋涂法和后退火工艺在FTO导电玻璃上制备了钨镍共掺杂V2O5薄膜,研究了薄膜在不同温度和不同偏压下的光电特性和相变特性.利用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和X射线光电子能谱仪(XPS)测试了钨镍共...参考文献和引证文献
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