文档名：一种过电应力导致的运算放大器失效分析
本文针对一种运算放大器的失效问题进行了分析.针对2只失效运放进行了Ⅳ特性测试,2只器件的3脚和5脚均为反向二极管特性正常,正向二极管特性不存在.与正常样品进行对比,正常样品的对应引脚正向和反向二极管特性均正常,由此证明器件已失效.随后,通过内部目检,发现3脚和5脚与NPN三极管基极相连的铝条发生过流熔断.建立3脚和5脚向三极管基极看进去的等效二极管示意图进行了分析,明确了铝条过流熔断和Ⅳ特性异常之间的对应关系.最后,结合失效器件的应用电路进行了分析,3脚和5脚与NPN管基极相连的铝条发生过流熔断是由于自系统公共地端引入了外界过电应力,从而引发运放失效.
作者：廉鹏飞罗宇华孔泽斌刘楠杨亮亮
作者单位：上海航天技术研究院第八〇八研究所,上海201109
母体文献：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会论文集
会议名称：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会
会议时间：2018年10月1日
会议地点：广州
主办单位：中国电子学会
语种：chi
分类号：TB5TN3
关键词：运算放大器 过电应力 过流熔断
在线出版日期：2021年12月15日
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