文档名：一种过电应力导致的双极型功率晶体管失效分析
本文针对一种双极型功率晶体管的失效问题进行了分析.通过Ⅳ特性测试,双极型晶体管的基极与发射极接近短路,基极与集电极呈电阻特性,导致了应用电路的输出电压发生跳变,从而引发系统失效.针对失效双极型晶体管开展了一系列的试验,从而排除了由于气密性不合格、多余物、水汽含量过高、器件分层等原因导致双极型晶体管失效的可能.通过内部目检,发现芯片表面靠近发射极内压焊点的一角存在过流烧毁痕迹,且扩散区表面和保护环已经发生过流变色.通过分析,双极型晶体管过流烧毁的原因为外界引入异常的过电应力,而烧毁部位于芯片一角是因为双极型晶体管的极间电场在尖角处较为集中,因此尖角处相对于其它部位更容易发生击穿烧毁.
作者：孔泽斌廉鹏飞张辉刘相全罗宇华
作者单位：上海航天技术研究院第808研究所,上海201109
母体文献：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会论文集
会议名称：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会
会议时间：2018年10月1日
会议地点：广州
主办单位：中国电子学会
语种：chi
分类号：TN3TB5
关键词：双极型功率晶体管 过电应力 极间电场 击穿烧毁
在线出版日期：2021年12月15日
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