文档名：一种高速背板串扰特性的无源测试方法
高速串行互连领域,单通道速率25Gbps的背板开始进入应用阶段,下一代速率56Gbps正处于广泛研究中.速率的翻升,使得串扰对信号完整性的影响更为突出,多个传输标准对串扰指标也提出了具体要求.本文针对具有接插件结构的背板通道,提出一种串扰特性的无源测试方法.该方法仅借助于一台单通道规格的矢量网络分析仪,即可完成对多通道串扰的测试分析.以某接插件背板为例的实验表明,串扰测试结果与背板通道的物理特性相吻合.
作者：李川郑浩毛智辉
作者单位：江苏省无锡市江南计算技术研究所214083
母体文献：第二十届计算机工程与工艺年会暨第六届微处理器技术论坛论文集
会议名称：第二十届计算机工程与工艺年会暨第六届微处理器技术论坛
会议时间：2016年8月10日
会议地点：西安
主办单位：中国计算机学会
语种：chi
分类号：TN9TN4
关键词：高速背板 串扰特性 无源测试 接插件 信号完整性
在线出版日期：2017年10月24日
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