文档名：提振中国芯质量ATE测试的机会和挑战
本文简述了提振中国芯的质量，分析了ATE测试的机遇和挑战，应该提高产品良率，提高测试效率，测试覆盖率。
作者：张震宇
作者单位：泰瑞达(亚洲)有限公司
母体文献：2018中国集成电路产业发展研讨会暨第21届中国集成电路制造年会论文集
会议名称：2018中国集成电路产业发展研讨会暨第21届中国集成电路制造年会
会议时间：2018年9月13日
会议地点：无锡
主办单位：中国半导体行业协会
语种：chi
分类号：
关键词：集成电路 性能测试 芯片质量
在线出版日期：2019年11月29日
基金项目：
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