文档名：某运算放大器寿命后输出异常失效分析
通过对成熟产品的失效分析发现产品在设计工艺结构、可靠性及环境性试验、以及使用过程中存在的问题,来指导前端改进优化设计及工艺.本文通过对某型集成运算放大器产品寿命后输出异常失效分析,发现该产品在寿命试验后金铝键合系统出现的问题,采用切片、SEM&EDS等失效分析常用工具及方法,找出影响该产品长期寿命的问题,并提出了相应的改进措施.本研究工作对于同类产品的可靠性设计、寿命长期可靠性具有借鉴意义.
作者：邹伟王成鹤周远杰聂长敏
作者单位：中国电子科技集团第二十四研究所,重庆400060
母体文献：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会论文集
会议名称：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会
会议时间：2018年10月1日
会议地点：广州
主办单位：中国电子学会
语种：chi
分类号：TP3TK2
关键词：运算放大器 产品寿命 输出异常 失效分析
在线出版日期：2021年12月15日
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