文档名：交流阻抗谱法检测热障涂层中热致氧化层的厚度
热障涂层失效的主要原因是服役过程中金属连接层和陶瓷层界面间形成的热致氧化物层(TGO)。采用交流阻抗谱法对1000℃高温氧化的热障涂层材料(TBCs)样品进行分析.结果显示,氧化时间100h后,致密氧化物层形成,其厚度随氧化进程增加且成分也由氧化铝向混合氧化物转变.通过等效电路模拟对交流阻抗测试结果进行分析,得到了热致氧化层(TGO)电容与厚度倒数的正比例关系,实现了对TGO层厚度的检测.
作者：邢岩王子媛郭思枞潘伟
作者单位：清华大学新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室,北京100084
母体文献：第二十届全国高技术陶瓷学术年会论文集
会议名称：第二十届全国高技术陶瓷学术年会
会议时间：2018年9月12日
会议地点：呼和浩特
主办单位：中国硅酸盐学会
语种：chi
分类号：
关键词：热障涂层 热致氧化层 厚度检测 交流阻抗谱
在线出版日期：2022年2月28日
基金项目：
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