文档名：基于有效辐射温度的面辐射源发射率测量方法研究
提出了一种基于有效辐射温度的面辐射源发射率测量方法.建立了发射率计算的数学等式,并根据测试结果的线性拟合结果确定了面辐射源的有效发射率.实验测试的面辐射源发射率为0.954,不确定度为5‰.
作者：温悦蔡静
作者单位：航空工业北京长城计量测试技术研究所,北京100095
母体文献：2018年计量测试技术交流会论文集
会议名称：2018年计量测试技术交流会
会议时间：2018年5月1日
会议地点：天津
主办单位：航空工业第304研究所
语种：chi
分类号：
关键词：面辐射源 发射率 有效辐射温度 不确定度
在线出版日期：2021年11月12日
基金项目：
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